1993

• Mid- and near - IR ellipsometry of Y 1-x Pr x Ba 2 Cu 3 O 7 epitaxial films

  HUMLÍČEK Josef HABERMEIER M. KAMARAS K. CARDONA M. KIRCHER J.

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 1993, ročník: 234, vydání: 1

• Normal-state infrared response from ellipsometric measurements: YBa(2)Cu(3)O(7) and PrBa(2)Cu(3)O(7)

  HUMLÍČEK Josef

  Článek ve sborníku

  Electronic Properties of high-Tc Superconductors, rok: 1993

• Oblique incidence specular reflectance spectra of a Bi 2 Se 3: Ge single crystal at plasma resonance

  FOLTIN O. NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Phys. Stat. Sol. (a), rok: 1993, ročník: 132(1992), vydání: K97

• Sensitivity of optical measurements of planar stratified structures and reduction of experimentsl data

  HUMLÍČEK Josef

  Odborná kniha

  Rok: 1993, vydání: Vyd. 1, počet stran: 99 s.

• Temperature dependence of the dielectric function and the interband critical-point parameters of GaP

  ZOLLNER S. HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 1993, ročník: 1993, vydání: -

• Temperature dependence of the dielectric function and the interband critical-point parameters of GaP

  ZOLLNER S. GARRIGA M. KIRCHER J. HUMLÍČEK Josef CARDONA M. NEUHOLD G.

  Článek v odborném periodiku

  Phys. Rev. B, rok: 1993, ročník: 48, vydání: 11

• Temperature dependence of the refractive index of crystalline germanium-silicon alloys

  HUMLÍČEK Josef GARRIGA Miquel

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. A, rok: 1993, ročník: 1993, vydání: 2

• The diffuse x-ray scattering in real periodical superlatices

  HOLÝ Václav KUBĚNA Josef OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Superlattices and Microstructures, rok: 1993, ročník: 12, vydání: 1

• Triple crystal x-ray diffractometry of periodic arrays of semiconductor quantum wires

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. Lett., rok: 1993, ročník: 63, vydání: 23

• X-ray diffraction and reflectance, raman scattering and photoluminiscence characterization of thermally annealed epitaxial Si 1-x Ge x layers

  LÍBEZNÝ Milan HOLÝ Václav KUBĚNA Josef

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 1993, ročník: 1993, vydání: 2