1994

• Undesirable Occurrence of the Interference Fringes in IR Transmittance Spectra

  KUČÍRKOVÁ Assja NAVRÁTIL Karel

  Článek v odborném periodiku

  Scripta Fac.Brun., rok: 1994, ročník: 29(1994), vydání: 1

• X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces

  PLOTZ W. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. III France 4, rok: 1994, ročník: 1994, vydání: -

• X-ray triple-cristal diffractometry of defects in epitaxic layers

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  J. Appl. Cryst., rok: 1994, ročník: 27, vydání: -

1993

• Denuded zone depth studied by x-ray diffraction

  BOCHNÍČEK Zdeněk HOLÝ Václav KUBĚNA Josef

  Článek v odborném periodiku

  3rd scientific and busines conference SILICON 92, rok: 1993, ročník: 1992, vydání: 1

• Exciton line shapes of GaAs/AlAs multiple quantum wells

  HUMLÍČEK Josef SCHMIDT Eduard BOČÁNEK Luděk ŠVEHLA Radoslav

  Článek v odborném periodiku

  Phys. Rev. B, rok: 1993, ročník: 48(1993), vydání: 8

• Heavy hole / Light hole splitting in GaAs/AlAs superlattices

  MUNZAR Dominik

  Článek v odborném periodiku

  Phys. Stat. Sol. (b), rok: 1993, ročník: 175(1993), vydání: -

• Infrared refracctive index of germanium-silicon alloy crystals

  HUMLÍČEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Opt., rok: 1993, ročník: 31(1992), vydání: 1

• IR ellipsometry of the highly anisotropic materials alpha - SiO2 and alpha-Al2O3

  HUMLÍČEK Josef ROESELER Arnulf

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 1993, ročník: 234, vydání: 1

• Lattice vibrations of Y(1-x) Pr( x) Ba(2)Cu(3)O(7): theory and experiment

  HUMLÍČEK Josef LEDERLE B. LITVINCHUK A.P. THOMSEN C. KRESS W.

  Článek v odborném periodiku

  Physica C, rok: 1993, ročník: 1993, vydání: 3

• Mid- and near - IR ellipsometry of Y 1-x Pr x Ba 2 Cu 3 O 7 epitaxial films

  HUMLÍČEK Josef HABERMEIER M. KAMARAS K. CARDONA M. KIRCHER J.

  Článek v odborném periodiku

  Thin Solid Films, rok: 1993, ročník: 234, vydání: 1