1995

• Optical spectroscopy of SiGe

  HUMLÍČEK Josef

  Kapitola v knize

  Silicon Germanium, rok: 1995, počet stran: 5 s.

• Photoreflectance Study of a Fibonacci Superlattice

  PÁNEK Petr MUNZAR Dominik HUMLÍČEK Josef LUKEŠ František

  Článek v odborném periodiku

  physica status solidi (b), rok: 1995, ročník: 190(1995), vydání: 1995

• Strain relaxation and misfit dislocations in compositionally graded Si 1-x Ge x layers on Si (001)

  LI J.H. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Crystal Growth, rok: 1995, ročník: 1995, vydání: 157

• Theoretical study of band-edge states in Sn 1 Ge n strained-yer superlattices

  WILLATZEN M. LEW YAN VOON L. C. SANTOS P. V. CARDONA M. MUNZAR Dominik CHRISTENSEN Niels Egede

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 1995, ročník: 52(1995), vydání: 7

• X-ray diffraction on Fibonacci superlattices

  MIKULÍK Petr HOLÝ Václav KUBĚNA Josef

  Článek v odborném periodiku

  Acta Crystallographica A, rok: 1995, ročník: 51, vydání: 9999

1994

• Analysis of strain and mosaicity in a short-period Si 9 Ge 6 superlattice by x-ray diffraction

  KOPPENSTEINER E. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. Lett., rok: 1994, ročník: 64, vydání: 2

• Diffuse x-ray scattering from non-ideal periodical crystalline multilayers

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. A, rok: 1994, ročník: 58(1994), vydání: -

• Diffuse x-ray scattering from p+ porous silicon by triple axis diffractometry

  KOPPENSTEINER E. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. Lett., rok: 1994, ročník: 65, vydání: 12

• Effect of interfacial-roughness replication on the diffuse x-ray reflection from periodical multilayers

  HOLÝ Václav KUBĚNA Josef

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. A, rok: 1994, ročník: 60, vydání: -

• Electronic structure of Sn/Ge superlattices

  MUNZAR Dominik CHRISTENSEN Niels Egede

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 1994, ročník: 49(1994), vydání: 16